ISSN: 2155-9872

Журнал аналитических и биоаналитических методов

Открытый доступ
English Spanish Chinese German French Japanese Portuguese Hindi Telugu Tamil

Наша группа организует более 3000 глобальных конференций Ежегодные мероприятия в США, Европе и США. Азия при поддержке еще 1000 научных обществ и публикует более 700 Открытого доступа Журналы, в которых представлены более 50 000 выдающихся деятелей, авторитетных учёных, входящих в редколлегии.

 

Журналы открытого доступа набирают больше читателей и цитируемости
700 журналов и 15 000 000 читателей Каждый журнал получает более 25 000 читателей

Публикационная политика и этика
Индексировано в
  • Индекс источника CAS (CASSI)
  • Индекс Коперника
  • Google Scholar
  • Шерпа Ромео
  • База данных академических журналов
  • Открыть J-ворота
  • Генамика ЖурналSeek
  • ЖурналТОС
  • ИсследованияБиблия
  • Национальная инфраструктура знаний Китая (CNKI)
  • Справочник периодических изданий Ульриха
  • Библиотека электронных журналов
  • РефСик
  • Каталог индексирования исследовательских журналов (DRJI)
  • Университет Хамдарда
  • ЭБСКО, Аризона
  • OCLC- WorldCat
  • научный руководитель
  • Онлайн-каталог SWB
  • Виртуальная биологическая библиотека (вифабио)
  • Публикации
  • Евро Паб
  • ICMJE
Посмотреть больше
Полезные ссылки
Журналы открытого доступа
Посмотреть больше
Поделиться этой страницей

Абстрактный

X - Ray Powder Spectroscopy Serves to Study the Metal-Semiconductor Interfaces

Dr. Pawolski Vador

Interfaces in Al/Si, Au/Si, and Au/GaAs materials have been studied using variable-energy positron annihilation spectroscopy. To discover the kind of locations that positrons were likely to sample, Doppler broadening results were analysed using computational fits of the ROYPROF programme. The positron work function of these materials was brought into consideration after it was discovered that the interfaces were working as a capturing thin layer with insignificant positrons halted in them and that their properties stemmed only from positrons diffusing to these interfaces. The interfaces are all 1 nm thick and act as an absorbing sink for all thermal positrons that diffuse in their direction, according to all fittings. This either points to the presence of open volume flaws or to a flaw in the accepted theoretical models for positron affinities. Measurements made after applying external electric fields to an Al/Si sample are used to support the conclusion. The sensitivity of interfaces in these endeavours and their significance in data analysis and the creation of fitting cods have been well shown by theoretical fittings.

Отказ от ответственности: Этот реферат был переведен с помощью инструментов искусственного интеллекта и еще не прошел проверку или верификацию.
Журналы по темам
Клинические и медицинские журналы